半導体真贋判定サービス「シン・IC」

流通在庫のICが本物かどうかを確認し、安心して使用できるようにするサービスです

新開発の半導体テスタ

最高2340ピンまでのディジタルICを全ピン検査可能です

偽物の場合、販売元に返品できるようにするため迅速に検査をします

X線検査で中身の入っていないICを見分けます

マーキングの書き換えやリサイクル品を見抜きます

実際にICを動作させ、全ピン検査を行います

FPGAやCPLD、CPUなど大規模なディジタルICに特化した真贋判定サービスです

コロナ禍によって半導体不足がますます深刻となる中で、流通在庫から調達せざるを得ない場合も増えてきています。しかしながら流通在庫には偽物が多く、そのままでは安心して使用することができません。

現在、流通市場に流れる偽物ICは非常に大きな問題となっています。

そこで、当社は流通在庫のICが本物か偽物かを判別し、出どころ不明な半導体が安心して使えるようにするためのIC真贋判定サービス「シン・IC」を開始いたしました。このサービスはFPGA, CPLD, CPUなど、JTAGに対応したICならば何にでも使える真贋判定サービスとなります。

「シン・IC」の具体的な内容は、X線検査、光学的検査(外観検査)、電気的検査です。

まずX線によってICの中身を透過的に観察し、内部に何も入っていないICや、明らかに偽物であるICを見つけ、排除します。

次に光学的検査により、マーキングが正常品と比べ違和感がないか、表面に削ったり書き換えたりしたような跡がないかといった判断が行われます。また、再生品（中古品）を識別するために開発された新開発の手法を用いて再生品かどうかを判別します。良品との比較は必要ありません。

最後に、実際にICに電源を投入し、JTAGというデバッグ用の通信プロトコルを用いて内部のIDCODEを読み取ります。また、JTAGのバウンダリスキャンという技術を使ってICの端子を操作することで全I/Oピンの動作を確認します。これによって偽物ICを高い確率で識別し、排除することができます。

X線や外観検査だけではわからない偽造品、中古品を100%判別

当社の検査では比較用の良品サンプルは不要です。

QFP64からBGA1754まで約20種類の標準的なICソケットをあらかじめ用意しており、全ての電源とGNDを正しく供給した上で実際に動作させてIDCODEを読み取ったり、端子を操作して信号を出すという電気的機能検査を行います。IDCODEが異なる偽物や読み取れない故障品は100%排除できます。

X線や外観検査ではわからなかった「同一メーカー、同一ファミリ」の偽装や、「中古品・再生品」の判別も可能です。

この事業は中小企業庁・経済産業省の「第6回事業再構築補助金」に採択され、開発されています